Области применения
<ul><li>выборочный контроль качества на производственной линии </li><li>входной контроль при приёмке партии </li><li>тестирование компонентов в ремонтных мастерских и сервисных службах </li><li>сортировка и отбор компонентов по параметрам </li><li>лабораторные исследования параметров при разработке и тестировании </li></ul>
Основные преимущества
<ul><li>Измеряемые параметры:<br/>Первичные: R – активное электрическое сопротивление; C – электрическая емкость; L – индуктивность; Z – модуль полного сопротивления. <br/>Вторичные: D – тангенс угла диэлектрических потерь; Q – добротность; Θ – угол фазового сдвига. </li><li>Напряжение испытательного сигнала 0,3 Вскз и 0,6 Вскз</li><li>Тестовые частоты: 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц, 40 кГц, 100 кГц </li><li>Эквивалентная схема: последовательная, параллельная </li><li>Время измерения: 1 раз/сек (SLOW), 2 раза/сек (MEDIUM), 4 раза/сек (FAST)</li><li>Схема измерения: 2-проводная, 4-проводная </li><li>Способ калибровки: открытая, короткозамкнутая </li><li>Настраиваемый компаратор</li><li>Режим относительных измерений </li><li>Фиксация текущего, минимального, максимального и среднего значения </li></ul>
Технические характеристики
<h3>Измерение емкости С и тангенса угла диэлектрических потерь D</h3>
Частота испытательного сигнала
\t
Поддиапазон измерений
\t
Отображаемый диапазон
\t
Пределы абсолютной погрешности измерений
\t
Эквивалентная схема измерений
C
\t
De*
100, 120 Гц
\t
20 мФ
\t
4,000 мФ...20,000 мФ
\t
±(0,08Cx + 5 е.м.р)
\t
±0,0800
\t
последовательная
4 мФ
\t
400,0 мкФ...3,9999 мФ
\t
±(0,02Cx + 3 е.м.р)
\t
±0,0200
\t
последовательная
400 мкФ
\t
40,00 мкФ...399,99 мкФ
\t
±(0,006Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0060
\t
последовательная
40 мкФ
\t
4,000 мкФ...39,999 мФ
\t
±(0,004Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0040
\t
последовательная
4 мкФ
\t
400,0 нФ...3,9999 мкФ
\t
±(0,004Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0040
\t
последовательная или параллельная<br/>
400 нФ
\t
40,00 нФ...399,99 нФ
\t
±(0,004Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0040
\t
параллельная
40 нФ
\t
4,000 нФ...39,999 нФ
\t
±(0,005Cx + 3 е.м.р)
\t
±0,0050
\t
параллельная
4 нФ
\t
0 пФ...3,999 нФ
\t
±(0,015Cx + 5 е.м.р)
\t
-
\t
параллельная
1 кГц
\t
1000 мкФ
\t
400,0 мкФ...999,9 мкФ
\t
±(0,03Cx + 5 е.м.р)
\t
±0,0300
\t
последовательная
400 мкФ
\t
40,00 мкФ...399,99 мкФ
\t
±(0,015Cx + 3 е.м.р)
\t
±0,0150
\t
последовательная
40 мкФ
\t
4,000 мкФ...39,999 мкФ
\t
±(0,006Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0060
\t
последовательная
4 мкФ
\t
400,0 нФ...3,9999 мкФ
\t
±(0,004Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0040
\t
последовательная или параллельная<br/>
400 нФ
\t
40,00 нФ...399,99 нФ
\t
±(0,004Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0040
\t
параллельная
40 нФ
\t
4,000 нФ...39,999 нФ
\t
±(0,006Cx + 3 е.м.р)
\t
±0,0060
\t
параллельная
4 нФ
\t
400,0 пФ...3,9999 нФ
\t
±(0,006Cx + 3 е.м.р)
\t
±0,0060
\t
параллельная
400 пФ
\t
0,0 пФ...399,9 пФ
\t
±(0,03Cx + 5 е.м.р)
\t
-
\t
параллельная<br/>
10 кГц
\t
100 мкФ
\t
40,00 мкФ...100,00 мкФ
\t
±(0,04Cx + 5 е.м.р)
\t
±0,0400
\t
последовательная
40 мкФ
\t
4,000 мкФ...39,999 мкФ
\t
±(0,02Cx + 3 е.м.р)
\t
...
<ul><li>выборочный контроль качества на производственной линии </li><li>входной контроль при приёмке партии </li><li>тестирование компонентов в ремонтных мастерских и сервисных службах </li><li>сортировка и отбор компонентов по параметрам </li><li>лабораторные исследования параметров при разработке и тестировании </li></ul>
Основные преимущества
<ul><li>Измеряемые параметры:<br/>Первичные: R – активное электрическое сопротивление; C – электрическая емкость; L – индуктивность; Z – модуль полного сопротивления. <br/>Вторичные: D – тангенс угла диэлектрических потерь; Q – добротность; Θ – угол фазового сдвига. </li><li>Напряжение испытательного сигнала 0,3 Вскз и 0,6 Вскз</li><li>Тестовые частоты: 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц, 40 кГц, 100 кГц </li><li>Эквивалентная схема: последовательная, параллельная </li><li>Время измерения: 1 раз/сек (SLOW), 2 раза/сек (MEDIUM), 4 раза/сек (FAST)</li><li>Схема измерения: 2-проводная, 4-проводная </li><li>Способ калибровки: открытая, короткозамкнутая </li><li>Настраиваемый компаратор</li><li>Режим относительных измерений </li><li>Фиксация текущего, минимального, максимального и среднего значения </li></ul>
Технические характеристики
<h3>Измерение емкости С и тангенса угла диэлектрических потерь D</h3>
Частота испытательного сигнала
\t
Поддиапазон измерений
\t
Отображаемый диапазон
\t
Пределы абсолютной погрешности измерений
\t
Эквивалентная схема измерений
C
\t
De*
100, 120 Гц
\t
20 мФ
\t
4,000 мФ...20,000 мФ
\t
±(0,08Cx + 5 е.м.р)
\t
±0,0800
\t
последовательная
4 мФ
\t
400,0 мкФ...3,9999 мФ
\t
±(0,02Cx + 3 е.м.р)
\t
±0,0200
\t
последовательная
400 мкФ
\t
40,00 мкФ...399,99 мкФ
\t
±(0,006Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0060
\t
последовательная
40 мкФ
\t
4,000 мкФ...39,999 мФ
\t
±(0,004Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0040
\t
последовательная
4 мкФ
\t
400,0 нФ...3,9999 мкФ
\t
±(0,004Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0040
\t
последовательная или параллельная<br/>
400 нФ
\t
40,00 нФ...399,99 нФ
\t
±(0,004Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0040
\t
параллельная
40 нФ
\t
4,000 нФ...39,999 нФ
\t
±(0,005Cx + 3 е.м.р)
\t
±0,0050
\t
параллельная
4 нФ
\t
0 пФ...3,999 нФ
\t
±(0,015Cx + 5 е.м.р)
\t
-
\t
параллельная
1 кГц
\t
1000 мкФ
\t
400,0 мкФ...999,9 мкФ
\t
±(0,03Cx + 5 е.м.р)
\t
±0,0300
\t
последовательная
400 мкФ
\t
40,00 мкФ...399,99 мкФ
\t
±(0,015Cx + 3 е.м.р)
\t
±0,0150
\t
последовательная
40 мкФ
\t
4,000 мкФ...39,999 мкФ
\t
±(0,006Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0060
\t
последовательная
4 мкФ
\t
400,0 нФ...3,9999 мкФ
\t
±(0,004Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0040
\t
последовательная или параллельная<br/>
400 нФ
\t
40,00 нФ...399,99 нФ
\t
±(0,004Cx + 2 е.м.р)
\t
±0,0040
\t
параллельная
40 нФ
\t
4,000 нФ...39,999 нФ
\t
±(0,006Cx + 3 е.м.р)
\t
±0,0060
\t
параллельная
4 нФ
\t
400,0 пФ...3,9999 нФ
\t
±(0,006Cx + 3 е.м.р)
\t
±0,0060
\t
параллельная
400 пФ
\t
0,0 пФ...399,9 пФ
\t
±(0,03Cx + 5 е.м.р)
\t
-
\t
параллельная<br/>
10 кГц
\t
100 мкФ
\t
40,00 мкФ...100,00 мкФ
\t
±(0,04Cx + 5 е.м.р)
\t
±0,0400
\t
последовательная
40 мкФ
\t
4,000 мкФ...39,999 мкФ
\t
±(0,02Cx + 3 е.м.р)
\t
...
